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產品資料

局部放電測試器

如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: 局部放電測試器
產品型號: B195000 電磁遮蔽罩
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

單機內建交流耐壓測試與局部放電偵測功能 可程式交流耐壓輸出0.1kVac~10kVac 高精度及高解析度電流表0.01μA~300μA 局部放電(PD)偵測范圍1pC~2000pC 高壓接觸檢查功能( HVCC) 符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規測試要求 內建IEC60747-5-5測試方法 量測與顯示單元分離式設計 三段電壓測試功能 PD測量


局部放電測試器  的詳細介紹
產品特色
  • 單機內建交流耐壓測試與局部放電偵測功能
  • 可程式交流耐壓輸出0.1kVac~10kVac
  • 高精度及高解析度電流表0.01μA~300μA
  • 局部放電(PD)偵測范圍1pC~2000pC
  • 高壓接觸檢查功能( HVCC)
  • 符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規測試要求
  • 內建IEC60747-5-5測試方法
  • 量測與顯示單元分離式設計
  • 三段電壓測試功能
  • PD測量結果數值顯示 (pC)
  • PD**發生次數判定設定 (1~10)
  • 多語系繁中/ 簡中/英文操作介面
  • USB畫面擷取功能
  • 圖形化輔助編輯功能
  • 標準LAN、USB、RS232遠端控制介面
Chroma 19501-K局部放電測試器內建交流耐電壓測試(Hipot Test)與局部放電(Partial Discharge,PD)偵測功能于一單機,提供交流電壓輸出0.1kV~10kV, 漏電流測量范圍0.01μ A~300μA, 局部放電偵測范圍1pC~2000pC,針對高壓半導體元件與高絕緣材料測試應用所設計與開發。
Chroma 19501-K局部放電測試器產品設計符合IEC60270-1法規,針對高電壓試驗技術中對局部放電測試要求,采用窄頻濾波器 (Narrowband)量測技術進行PD放電量測量,并將量測結果以直觀數值 (pC) 顯示在螢幕上讓使用者清楚明了待測物測試判定結果。
產品設計上,除了符合IEC60270-1,同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規要求,內建IEC60747-5-5法規之測試方法于儀器內部,滿足光耦合器產品生產測試需求,并提供使用者便利的操作介面。
于生產線上執行高壓測試時,如果待測物未能正確及良好連接測試線,將導致測試結果失敗甚至發生漏測的風險,因此在測試前確保待測物與測試線良好連接是非常重要的。 Chroma獨特之高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check :HVCC) 系利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件,于高壓輸出時同步進行接觸檢查,增加測試有效性與生產效率。
在固體絕緣物中含有氣隙或雜質混合在絕緣層時,額定工作高壓狀態下,由于較高的電場強度集中于氣隙而產生局部放電 (Partial Discharge),持續性的局部放電會長久劣化周遭絕緣材,而影響電氣產品之長久信賴性,而引起**事故。
應用于電源系統之安規元件,如光耦合器,因考量如果元件長時間發生局部放電對于絕緣材料的破壞,而發生絕緣失效的情況,進而引發使用者人身**問題;因此,在IEC60747-5-5法規中提及,于生產過程中 (Routine test) 必須100%執行局部放電 (Partial discharge) 檢測,在*大絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量,確保產品在正常工作環境中不會發生局部放電現象。
局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關等高絕緣耐受力之元件,提供高壓的耐壓測試與局部放電偵測,確保產品品質與提升產品可靠度。





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