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產品資料

TO-CAN 封裝外觀檢測系統

如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: TO-CAN 封裝外觀檢測系統
產品型號: 7925
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

可檢測TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合**等缺陷 具備自動對焦功能,可克服載盤制造公差內的高度差異 檢測完成后可依設定規格挑揀**品 提供比人工目檢更佳的可靠度及重復性 每小時*高可檢測3600顆待測物 自動化上下料盤,減少人員上下料時間 提供完整的檢測資料,包含檢測數據及缺陷影像以供工程分析


TO-CAN 封裝外觀檢測系統  的詳細介紹
產品特色
  • 可檢測TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合**等缺陷
  • 具備自動對焦功能,可克服載盤制造公差內的高度差異
  • 檢測完成后可依設定規格挑揀**品
  • 提供比人工目檢更佳的可靠度及重復性
  • 每小時*高可檢測3600顆待測物
  • 自動化上下料盤,減少人員上下料時間
  • 提供完整的檢測資料,包含檢測數據及缺陷影像以供工程分析
Chroma 7925為自動化TO-CAN封裝外觀檢測系統,可提供封裝前后的透鏡與金屬外蓋缺陷進行檢測。透過高解析度之鏡頭以及多樣的光源配置,可檢出30um以上的透鏡刮傷及異物。由于載盤可能存在制造公差導致待測物對焦距離均不相同,Chroma 7925配置了自動對焦系統,可自動計算待測物之對焦距離并進行補償,以確保可以取得清楚的檢測影像。
使用者可以自由設定良品與**品之規則及缺陷編碼,并依據編碼進行挑揀。從上片、檢測、挑揀及下片均為全自動化流程,大幅降低人員操作及制程管理發生錯誤的機會。檢測完成后,工程師可以取得詳細的缺陷量化數據,以及儲存缺陷影像以利于再判讀。相較于人工目檢無法保留檢測資料,使用Chroma 7925所取得之資料,將有助于分析制程問題,并進一步提升產品良率。
 TO-CAN Defect Items
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